飛納電鏡彩色成像技術ChemiSEM，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、塗層、水泥和軟物質材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實時疊加，在成像同時提供高質量的成分定性定量信息。

實時分析獲取更深層的信息 所有的 SEM-EDS 分析本質上都是複雜的，對於產品故障分析和汙染物識別等應用，研發 需要不斷改進質量控製（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解決出現的問題。 ChemiSEM 技術的實時分析在質量控製和生產效率提升方麵提供了優勢。它的 EDS 集成在儀器中，並在電鏡工作時始終在後台收集成分數據，逐步建立樣品更全麵和詳 細的信息，幫助您更快地定位到關鍵質量問題。實時定量麵掃：不再有

實時定量麵掃：不再有分析幹擾 傳統的元素分析中，複雜樣品元素分布和相分布麵掃並不能及時得到精確的結果。例 如，一個峰的信號有時會被識別為兩個元素，產生錯誤，幹擾樣品QC 問題的判斷。 憑借創新的算法和智能光譜擬合，ChemiSEM 技術可以幫助您的實驗室團隊實現準確的 元素識別和量化—— 即使在處理多個重疊元素時也是如此。

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ChemiSEM 定量麵掃：飛納電鏡彩色成像技術ChemiSEM 自動處理原始信號，生成定量麵掃結果。數據被很好地解析，能夠有效避免和 峰和重疊峰的影響。並且使用算法同時處理 BSE（背散射電子）和 EDS 信號，從而可以實時顯示樣品的形態和 元素定量結果。

無偏差相分析 傳統的相分析高度依賴於對樣品的假設，當存在譜峰重疊或強度不足而遺漏了元素時， 這可能會是一個問題。 有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技術中的一項新功能）後，可以避免這種情況。複雜樣 品的分析能夠做到無偏差，可以基於數據單元中所有光譜結果，係統地識別每個獨 立的相。隨後，數據分析可以在沒有任何元素預定義的情況下自動運行，無需豐富經驗 即可定位次要/微量元素，明確識別主要和次要成分，完成更深入、更全麵的分析。

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使用 ChemiPhase 對地質切片的分析，每個相的能譜成分被自動提取和計算，可以將不同礦物相有效區分。

自動樣品漂移校正 成分分析過程中，準確和有效的定量結果需要一個正確且穩定的樣品位置信息。 通常在圖像漂移的情況下，研究人員需要多次重新獲取分析數據，或者等待樣品停止漂 移後再獲取數據，這兩種方式都會降低測試效率。 通過不斷監控樣品位置，ChemiSEM 軟件提供自動樣品漂移校正，使高倍率操作和較長 時間的能譜采集成為可能。幫助大家節省寶貴的時間和精力，專注於更重要的事情：盡 快獲取最高質量的數據。